從1953年至今，菲希爾（FISCHER）公司不斷地在涂鍍層測 厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發(fā) 展出創(chuàng)新型的測量技術。如今，菲希爾的測量技 術已在世界各地得到應用，滿足客戶對儀器準確 度、精度和可靠性的要求。 作為在生產測量中使用X射線熒光法的，菲希爾（FISCHER）很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料 分析領域的巨大潛力，因而開始研發(fā)和制造工業(yè) 級耐用的測量儀器。*臺菲希爾X射線儀器在 二十世紀八十年代初就已面世。 從那時起，菲希爾（FISCHER）不斷改進和研發(fā)X射線熒光技 術，使得該項技術在今天居于地位。其中的 一個例子是透明的狹縫設計，從而使用戶可以與 基本射線同方向查看樣品。另外，打開儀器艙門 自動彈出測量平臺（“彈出功能”）也是由 菲希爾實現(xiàn)的。在軟件方面，菲希爾是*使用 *基本參數(shù)法來計算光譜的公司。 菲希爾（FISCHER）在生產過程實行嚴格的質量標準控制，在 對零部件進行苛刻的檢驗，確保菲希爾X射線儀 器有著的高可靠性。 目前，有超過10000臺X射線儀器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強大，可靠和耐用的X射線熒光測量設備的代名詞。 的工業(yè)制造和科學研究都依賴于這些可靠且的儀器設備。菲希爾（FISCHER）一貫以持續(xù)的研發(fā)、先進的設備和創(chuàng)新的軟件來迎接挑戰(zhàn)。因為只有經過精心構思設計和按照高標準制造的產品，zui終 才能有*的工作性能。也只有這樣的產品才能配得上菲希爾的品牌。菲希爾是您可信賴的品牌。 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層 厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性 分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng) 的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產環(huán)境 中，這一方法都能勝任，并還可以與現(xiàn)代化 設備一起發(fā)揮作用。 EDXRF作為一種常用測試方法，有著其突出的優(yōu) 勢。它幾乎可以測量所有工藝相關元素，并且工 作時無損且不接觸樣品。測量時間一般在數(shù)秒鐘 內，很少多于一分鐘。通常不需要復制的樣品制 備，即可進行快速測量。利用該方法，可以同時 測量均質材料及鍍層的厚度和化學成分。不僅如 此，EDXRF方法檢測各種類型樣品里的微量有害 物質。 此外，X射線熒光分析是一種清潔的測量方法， 測量過程不使用任何化學制品。由于有著合理精 巧的設計，X射線不會對操作人員和環(huán)境構成任 何威脅：菲希爾X射線儀器是安全可靠的。 X射線熒光分析基于以下物理現(xiàn)象：樣品材料中的原 子由于受到初級X射線轟擊，從而失去內層軌道中的 某些電子。失去電子所留下的空穴會被外層電子來填 補，在填補的過程中，會產生每個元素*的特征X 射線熒光。接收器探測到該熒光射線后，便能提供樣 品的材料組成等信息。 由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和 測量薄鍍層及鍍層系統(tǒng)，因而應用廣泛： 在電子和半導體產業(yè)里，測量觸點上薄金，鉑和 鎳層厚度或痕量分析。 在鐘表和珠寶行業(yè)或采礦精煉工業(yè)中，分析 貴金屬合金組分。 在質量管控和來料檢驗中，需要確保產品或零部 件*材料設計規(guī)范。如在太陽能光伏電池 產業(yè)中，光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了 光伏電池的效率。在電鍍行業(yè)中，則需要測量大 批量部件的厚度。 對于電子產品的生產者和采購者，檢驗產品是否 符合《限制在電子電氣產品中使用有害物質的指 令》（RoHS指令）也是十分關鍵的。 在玩具工業(yè)中，也需要有可靠的有害物質檢測手 段。 對于以上測量應用，菲希爾的FISCHERSCOPE X- 射線光譜儀都能勝任。 將X射線熒光的測量原理轉變?yōu)槟陀酶呔鹊臏y 量設備，能在實驗室和日常工業(yè)生產中可靠工 作，需要有開創(chuàng)性的創(chuàng)造力和持之不懈的研發(fā) 能力。在菲希爾，我們激情飽滿，全力以赴。這 點，您可以在FISCHERSCOPE X射線儀器廣泛而 多樣的產品型號中一窺究竟 比如，測量方向為自下往上型的光譜儀是快速便 捷地測量大批量生產零件的理想選擇。然而對于 諸如硅晶片等不適合接觸測量臺的樣品，那么正 確的選擇應該是測量方向為從上往下的儀器。 另一方面，如果要測量引線框架上的針腳或 判斷某一區(qū)域內的均勻性時，就需要有極小測量 面積并且有高精度可編程XY平臺定位的儀器。 對于在運行中的生產線上進行在線測量的要求嚴 格的場合，就需要一個*不同的測量系統(tǒng)，比 如可以直接將測量頭置于真空艙中。 |
